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SN74BCT8244ANTG4	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-DIP（0.300"，7.62mm）；包装：卷带（TR）类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	TI 德州仪器	TI
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SN74CB3Q3245PWR	文件：0 bytes Page：0 Pages	TSSOP-20	TI 德州仪器上传：深圳市科睿涛电子有限公司	TI
SN74CB3Q3253RGYR	文件：0 bytes Page：0 Pages	QFN16	TI 德州仪器上传：深圳市河锋鑫科技有限公司	TI
SN74CB3Q3257DBQR	文件：0 bytes Page：0 Pages	N/A	TI 德州仪器上传：深圳卓越飞讯科技有限公司	TI

产品属性

产品编号：
SN74BCT8244ANTG4
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）
逻辑类型：
扫描测试设备，带缓冲器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
通孔
封装/外壳：
24-DIP（0.300"，7.62mm）
供应商器件封装：
24-PDIP
描述：
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

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