具有八路反向缓冲器的 IEEE 标准 1149.1 (JTAG) 边界扫描测试设备

The 'BCT8240A scan test devices with octal buffers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family ofTestability Products• Octal Test-Integrated Circuits• Functionally Equivalent to 'F240 and 'BCT240 in theNormal-Function Mode• Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) TestAccess Port and Boundary-Scan Architecture• Test Operation Synch;

TI

德州仪器

Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR） 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

TI2

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Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR） 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

TI2

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Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

TI2

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