SN74AHCT595-Q1 Automotive 8-Bit Shift Registers With 3-State Output Registers

1 Features • AEC-Q100 qualified for automotive applications: – Device temperature grade 1: -40°C to +125°C – Device HBM ESD classification level 2 – Device CDM ESD classification level C4B • Available in wettable flank QFN package • Operating range 4.5V to 5.5V VCC • TTL-Compatible inputs

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SNx4AHCT595 8-Bit Shift Registers With 3-State Output Registers

1 Features • Inputs are TTL-voltage compatible • 8-bit serial-in, parallel-out shift • Shift register has direct clear • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II • ESD protection exceeds JESD 22: – 2000V Human-Body Model (A114-A) – 200V Machine Model (A115-A) – 1000V Charg

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具有三态输出寄存器和 TTL 兼容型 CMOS 输入的汽车类八位移位寄存器

SN74AHCT595-Q1 器件包含可对 8 位 D 类存储寄存器进行馈送的 8 位串行输入、并行输出移位寄存器。移位寄存器时钟 (SRCLK) 和存储寄存器时钟 (RCLK) 均为正边沿触发。 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准： \n \n器件温度等级 1：-40°C 至 +125°C\n \n器件 HBM ESD 分类等级 2\n \n器件 CDM ESD 分类等级 C4B\n \n\n \n采用具有可湿性侧面的 QFN 封装\n \n工作范围为 4.5V 至 5.5V VCC\n \nTTL 兼容输入\n \n低延迟，6ns typ (25°C, 5V)\n \n闩锁性能超过 250mA，符合 JESD 17 规范;

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SOP20

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DIP20

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