SN74AHC165-Q1 Automotive 8-Bit Shift Registers With 3-State Output Registers

1 Features • AEC-Q100 qualified for automotive applications: – Device temperature grade 1: -40°C to +125°C – Device HBM ESD classification level 2 – Device CDM ESD classification level C4B • Available in wettable flank QFN (WBQA) package • Operating range 2-V to 5.5-V VCC • Low delay, 6 ns

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汽车类 4.5V 至 5.5V 8 位并行负载移位寄存器

SN74AHC165-Q1 器件包含一个可对 8 位 D 类存储寄存器进行馈送的 8 位串行输入、并行输出移位寄存器。存储寄存器具有并行三态输出。移位寄存器和存储寄存器各自具备独立时钟。移位寄存器具有直接覆盖清零 ( SRCLR) 输入以及用于级联结构的串行 (SER) 输入和串行输出。当输出使能端 ( OE) 输入为高电平时，所有输出（QH′ 除外）均处于高阻抗状态。 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准： \n \n器件温度等级 1：-40°C 至 +125°C\n \n器件 HBM ESD 分类等级 2\n \n器件 CDM ESD 分类等级 C4B\n \n\n \n采用具有可润湿侧翼的 QFN (WBQA) 封装\n \n工作电压为 2V 至 5.5V V CC\n \n低延迟， 6 ns (25 °C, 5 V)\n \n闩锁性能超过 250mA， 符合 JESD 17 规范;

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