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SN74AC10-Q1中文资料德州仪器数据手册PDF规格书

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厂商型号

SN74AC10-Q1

功能描述

SN74AC10-Q1 Automotive Triple 3-Input Positive-NAND Gates

文件大小

1.56833 Mbytes

页面数量

31

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

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数据手册

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更新时间

2025-11-30 23:00:00

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SN74AC10-Q1规格书详情

1 Features

• AEC-Q100 qualified for automotive applications:

– Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

– Device HBM ESD classification level 2

– Device CDM ESD classification level C4B

• Available in wettable flank QFN package

• Wide operating range of 1.5V to 6V

• Inputs accept voltages up to 6V

• Continuous ±24mA output drive at 5V

• Supports up to ±75mA output drive at 5V

in short bursts

• Drives 50Ω transmission lines

• Maximum tpd of 8.5ns at 5V, 50pF load

2 Applications

• Alarm/tamper detect circuit

• S-R latch

3 Description

The SN74AC10-Q1 contains three independent 3-

input NAND gates. The devices perform the Boolean

function Y = A • B • C in positive logic.

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