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SN74ABTH18652A集成电路(IC)的专用逻辑器件规格书PDF中文资料

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厂商型号

SN74ABTH18652A

参数属性

SN74ABTH18652A 封装/外壳为64-LQFP;包装为卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带;类别为集成电路(IC)的专用逻辑器件;产品描述:IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

封装外壳

64-LQFP

文件大小

580.25 Kbytes

页面数量

39

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

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数据手册

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更新时间

2025-11-11 13:28:00

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SN74ABTH18652A规格书详情

SN74ABTH18652A属于集成电路(IC)的专用逻辑器件。由德州仪器制造生产的SN74ABTH18652A专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型,例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。

产品属性

更多
  • 产品编号:

    SN74ABTH18652APM

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74ABTH

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带收发器和寄存器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    18

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    64-LQFP

  • 供应商器件封装:

    64-LQFP(10x10)

  • 描述:

    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

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