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SN74ABT18245A	文件：868.21 Kbytes Page：38 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru 文件：868.21 Kbytes 页数：38 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74ABT18245ADL.B	文件：868.21 Kbytes Page：38 Pages	丝印：ABT16823；Package：SSOP；SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru 文件：868.21 Kbytes 页数：38 Pages	TI 德州仪器	TI

技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
18
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
38
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
5.4
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-40 to 85
Package Group：
SSOP

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
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