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SN54BCT8374AJT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

TITexas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

SNJ54BCT8374AFK

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

TITexas Instruments

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SNJ54BCT8374AFK

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SNJ54BCT8374AFK

SCANTESTDEVICESWITHOCTALD-TYPEEDGE-TRIGGEREDFLIP-FLOPS

MembersoftheTexasInstruments SCOPEFamilyofTestabilityProducts OctalTest-IntegratedCircuits FunctionallyEquivalentto’F374and ’BCT374intheNormal-FunctionMode CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture TestOperatio

TI2Texas Instruments

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SN54HC273J

TI
DIP20

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更多SN54BCT8374AJT供应商 更新时间2025-7-30 13:31:00