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SN54ABTH18502A	文件：924.4 Kbytes Page：47 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：924.4 Kbytes 页数：47 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A	文件：926.08 Kbytes Page：47 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：926.08 Kbytes 页数：47 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A	文件：549.7 Kbytes Page：37 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：549.7 Kbytes 页数：37 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A	文件：832.18 Kbytes Page：42 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：832.18 Kbytes 页数：42 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A	文件：802.49 Kbytes Page：42 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：802.49 Kbytes 页数：42 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A_07	文件：802.49 Kbytes Page：42 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：802.49 Kbytes 页数：42 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A_08	文件：832.18 Kbytes Page：42 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：832.18 Kbytes 页数：42 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502AHV	文件：549.7 Kbytes Page：37 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：549.7 Kbytes 页数：37 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54ABTH18502A	文件：300 bytes Page：1 Pages	具有 18 位通用总线收发器的扫描测试设备 The 'ABTH18502A and 'ABTH182502A scan test devices with 18-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPE testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblie • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family ofTestability Products• Members of the Texas Instruments WidebusTM Family• Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) TestAccess Portand Boundary-Scan Architecture• UBTTM (Universal Bus Transceiver) Combines D-TypeLatches and D-Type Flip-Fl;	TI 德州仪器	TI

技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
18
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
27
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
6.2
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-55 to 125
Package Group：
CFP

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