配套仪表及系统

形位尺寸测量系统用于产品的外形尺寸的测量与分析，包括微位移传感器和变送器两部分，变送器可配备多只小量程的位移传感器，变送器对采集到的位移传感器信号进行分析处理，得到被检测的产品的外观尺寸数据，同时给出结构尺寸是否合格结果，如果需要还可以进一步给出修正的相关信息。 •一键检测\n•最多可配8只微位移传感器\n•可定制化上位机软件，实现多种功能;

Soway

信为

N-Channel Silicon Junction Field-Effect Transistors

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