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CD74HC280E集成电路(IC)的奇偶校验发生器校验器规格书PDF中文资料

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厂商型号

CD74HC280E

参数属性

CD74HC280E 封装/外壳为14-DIP(0.300",7.62mm);包装为卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带;类别为集成电路(IC)的奇偶校验发生器校验器;产品描述:IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

功能描述

High-Speed CMOS Logic 9-Bit Odd/Even Parity Generator/Checker
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

封装外壳

14-DIP(0.300",7.62mm)

文件大小

407.06 Kbytes

页面数量

12

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

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更新时间

2025-12-11 23:01:00

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CD74HC280E规格书详情

CD74HC280E属于集成电路(IC)的奇偶校验发生器校验器。由德州仪器制造生产的CD74HC280E奇偶校验发生器和校验器逻辑奇偶校验发生器和校验器系列器件是元件级器件,用于评估设置为 1 的数字字中的位数,并另外生成(或评估)一个奇偶校验位,指示设置为 1 的字中的位数是偶数还是奇数。此功能通常用作检测在传输过程中可能引入的数据错误的简单方法。

产品属性

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  • 产品编号:

    CD74HC280E

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 奇偶校验发生器和校验器

  • 系列:

    74HC

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    奇偶校验发生器/校验器

  • 电路数:

    9 位

  • 电流 - 输出高、低:

    5.2mA,5.2mA

  • 工作温度:

    -55°C ~ 125°C

  • 安装类型:

    通孔

  • 封装/外壳:

    14-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供应商器件封装:

    14-PDIP

  • 描述:

    IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

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