CAHCT1G00QDBVRQ1中文资料德州仪器数据手册PDF规格书

厂商型号	CAHCT1G00QDBVRQ1
功能描述	SN74AHCT1G00-Q1 Automotive 2-Input Positive-NAND Gates
丝印标识	37SH
封装外壳	SOT-23
文件大小	1.14614 Mbytes
页面数量	25 页
生产厂商	Texas Instruments
企业简称	TI1【德州仪器】
中文名称	美国德州仪器公司官网
原厂标识
数据手册	下载地址一下载地址二到原厂下载
更新时间	2025-7-4 23:00:00
人工找货	CAHCT1G00QDBVRQ1价格和库存，欢迎联系客服免费人工找货

1 Features

• AEC-Q100 qualified for automotive applications:

– Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

– Device HBM ESD classification level 2

– Device CDM ESD classification level C4B

• Operating range of 4.5V to 5.5V

• Low power consumption, 10μA maximum ICC

• ±8mA output drive at 5V

• Inputs are TTL-voltage compatible

• Latch-up performance exceeds 250mA

per JESD 17

2 Applications

• Enable or disable a digital signal

• Controlling an indicator LED

• Logic latch or control signals

3 Description

The SN74AHCT1G00-Q1 is a 2-input NAND Gate.

Each gate performs the Boolean function Y = A × B in

positive logic.

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