AFE3256中文资料适用于动态和半动态 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)数据手册TI规格书
AFE3256规格书详情
描述 Description
AFE3256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE)，旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。此器件包括 256 个集成器、带双电源的相关双采样器 (CDS) 和 256:2 模拟多路复用器。该器件还具有两个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。
该器件通常也称为读出集成电路 (ROIC)，可使用多种功耗模式和系统内调试选项等特性来优化整体系统性能。
睡眠和待机模式能够大幅降低功耗，这对于电池供电型系统至关重要。
特性 Features
• 256 通道
• 高性能：
• 低相关噪声
• 扫描时间：
• 可编程满量程输入电荷量范围： 0.3pC 至 12.5pC，分辨率为 0.3pC
• 内置相关双采样器
• 流水线式“集成和读取”，用于提高集成期间的吞吐量数据读取
• 片上温度传感器
• 简单电源方案：
• 多种功率模式，功耗范围为 1mW/通道至 2mW/通道
• 分箱模式支持
• 定制 Chip-On-Film (COF) 封装
技术参数
- 制造商编号
：AFE3256
- 生产厂家
：TI
- Resolution (Bits)
：16
- Features
：Internal Reference Buffer
- Interface type
：SPI/LVDS
- Operating temperature range (°C)
：0 to 70
- Rating
：Catalog
- 封装
：COF (TFU)
- 引脚
：320
- 尺寸
：1064 mm² 38 x 28
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