74F40集成电路（IC）的奇偶校验发生器校验器规格书PDF中文资料
| 厂商型号 |
74F40 |
| 参数属性 | 74F40 封装/外壳为16-DIP（0.300"，7.62mm）；包装为卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带；类别为集成电路（IC）的奇偶校验发生器校验器；产品描述：IC PARITY GEN/CHKER 16-BIT 16DIP |
| 功能描述 | Dual 4-input NAND buffer |
| 封装外壳 | 16-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 文件大小 |
34.43 Kbytes |
| 页面数量 |
3 页 |
| 生产厂商 | PHI |
| 中文名称 | 飞利浦 |
| 数据手册 | |
| 更新时间 | 2026-1-29 23:00:00 |
| 人工找货 | 74F40价格和库存，欢迎联系客服免费人工找货 |
74F40规格书详情
Dual 4-input NAND buffer
产品属性
- 产品编号：
74F402PC
- 制造商：
onsemi
- 类别：
集成电路（IC） > 奇偶校验发生器和校验器
- 系列：
74F
- 包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
- 逻辑类型：
奇偶校验发生器/校验器
- 电路数：
16 位
- 电流 - 输出高、低：
5.7mA，16mA
- 工作温度：
0°C ~ 70°C
- 安装类型：
通孔
- 封装/外壳：
16-DIP（0.300"，7.62mm）
- 供应商器件封装：
16-PDIP
- 描述：
IC PARITY GEN/CHKER 16-BIT 16DIP
| 供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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