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SC02S	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S0505A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S0512A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S1205A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S1212A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S2405A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SC02S2412A	文件：238.14 Kbytes Page：4 Pages	2W DC/DC CONVERTER, SMD-Package 文件：238.14 Kbytes 页数：4 Pages	delta 台达电子	delta
SN54SC4T02MPWTSEP	文件：998.33 Kbytes Page：24 Pages	丝印：SC02SEP；Package：TSSOP；SN54SC4T02-SEP Radiation Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NOR Gates 1 Features • Vendor item drawing available, VID V62/23628-01XE • Total ionizing dose characterized at 30 krad (Si) – Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad (Si) • Single-event effects (SEE) characterized: – Single event latch-up (SEL) 文件：998.33 Kbytes 页数：24 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54SC4T02MPWTSEP	文件：1.05458 Mbytes Page：25 Pages	丝印：SC02SEP；Package：TSSOP；SN54SC4T02-SEP Radiation Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NOR Gates 1 Features • Vendor item drawing available, VID V62/23628-01XE • Total ionizing dose characterized at 30 krad (Si) – Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad (Si) • Single-event effects (SEE) characterized: – Single event latch-up (SEL) 文件：1.05458 Mbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI
SN54SC4T02MPWTSEP.A	文件：1.05458 Mbytes Page：25 Pages	丝印：SC02SEP；Package：TSSOP；SN54SC4T02-SEP Radiation Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NOR Gates 1 Features • Vendor item drawing available, VID V62/23628-01XE • Total ionizing dose characterized at 30 krad (Si) – Total ionizing dose radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad (Si) • Single-event effects (SEE) characterized: – Single event latch-up (SEL) 文件：1.05458 Mbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI

技术参数

型号：
SC02S0505A

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳市华睿芯科技有限公司	SC02SH005EY04	M	24+	QFP	20000	全新原厂原装，进口正品现货，正规渠道可含税！！	询价
深圳市科雨电子有限公司	SC02S2405A	DELTA	25+	电源模块	1520	就找我吧!--邀您体验愉快问购元件!	询价
深圳市易讯博科技有限公司	SC02S2412A	Delta	22+	NA	12080	加我QQ或微信咨询更多详细信息,	询价
贸泽芯城（深圳）电子科技有限公司	SC02SH005EY04	M	23+	QFP	11200	原厂授权一级代理、全球订货优势渠道、可提供一站式BO	询价
香港创芯邦电子有限公司	SC02SH007NS08	MOT	23+	BGA	2	现货库存	询价
现代芯城（深圳）科技有限公司	SC02S1205A		24+	N/A	48000	一级代理-主营优势-实惠价格-不悔选择	询价
深圳市安富世纪电子有限公司	SC02TH016EL05	AXIL	23+	QFP340	50000	全新原装正品现货,支持订货	询价
深圳市威尔健半导体有限公司	SC02TH016EL05	AXIL	23+	QFP340	50000	全新原装正品现货,支持订货	询价
深圳市威雅利发展有限公司	SC02TH016EL05	AXIL	99+	QFP340	10	一级代理,专注军工、汽车、医疗、工业、新能源、电力	询价
深圳市得捷芯城科技有限公司	SC02TH016EL05	AXIL	24+	NA/	3260	原厂直销,现货供应,账期支持!	询价

更多SC02S供应商更新时间2025-10-4 13:28:00

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