用于X射线无损检测的背照式光电二极管阵列

S11212-421 是一款专用于X射线无损检查的背照式16象元光电二极管阵列。它比我们之前的S5668系列相比，具有更高的灵敏度一致性和更小的象元变化。该背照式二极管更加易于使用，更便于和闪烁体耦合，由于它在背部没有光敏面，也没有焊接线，因此不需要担心对线的损坏。由于它们的封装尺寸和管脚连接都相同，它可以替代S5668系列。 \n-象元尺寸：1.175 (W) × 2.0 (H) mm / 单象元 \n-象元间距：1.575 mm (× 16 pixels) \n-板上尺寸：25.4 (W) ×20.0 (H) mm\n-多阵列，长而窄的设计版式\n-支持双能成像（上下两层结合使用时）;

Hamamatsu

滨松光子

DIP2

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DIP

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