随着芯片功能不断增加，系统设计从简单的电路板向复杂的多芯片片上系统 (SoC) 架构发展，手持终端与消费类电子产品开发人员正面临着日益严格的引脚与封装要求。作为 IEEE 工作组的重要成员，德州仪器|仪表 (TI) 日前宣布将致力于推动 IEEE 1149.7 标准获得批准。IEEE 1149.7 是一种全新的双引脚测试与调试接口标准，可将 IEEE 1149.1 技术的引脚数量减半，使设计人员能够轻松测试并调试具有复杂数字电路、多个 CPU 以及应用软件的产品，如移动与手持通信设备等。除领衔推进最新 IEEE 1149.7 标准的开发与应用工作外，TI 还与 Freescale Semiconductor、Lauterbach Datentechnik GmbH、IPExtreme、ASSET InterTech, Inc.、Corelis 以及 GlobeTech Solutions 等知名企业合作，了解并确定该技术在实施方面所面临的挑战，从而确保这一经过优化的全面高效的解决方案能够在整个行业广泛采用。　　IEEE 1149.7 是获得广泛普及、已使用 20 多年的 IEEE 1149.1（JTAG）标准的配套扩展和延伸。该款作为连接嵌入式系统端口的新型标准满足了系统开发过程中器件制造、测试以及软件开发等的需求，预计将于 2009 年初获得批准。除了保持与 IEEE 1149.1 兼容之外，该款新型标准还显著改进了调试功能，并大幅降低了对 SoC 引脚数的要求。此外，这种新型标准还将省电条件实现了标准化，简化了多芯片模块和叠层裸片器件的制造，并能传输仪表数据。　　TI 仿真技术产品经理 Stephen Lau 指出：“IEEE 1149.7 测试与调试技术将成为电子行业的重大里程碑，使工程师们能够轻松更新当前设计方案来满足新标准，保护已有投资，并确保与现有 IP 模块和五金|工具的兼容。Freescale、Intel 和 STMicroelectronics 等业界领先公司正和 TI 携手在整个行业内共同推广这种新标准，并在产品中集成该技术。”　　欢迎转载,信息来自维库电子市场网（www.114ic.com）